LJ-18M磁控離子濺射儀鍍膜儀

產(chǎn)地/品牌：北京/裕隆時代

型      號： LJ-18M

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最后更新：2025-04-29

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北京裕隆時代科技有限公司

裕隆時代LJ-16小型離子濺射儀/噴金儀

產(chǎn)地/品牌：北京/裕隆時代

型      號： LJ-16

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GSC-MK掃描電鏡超低溫冷臺

產(chǎn)地/品牌：北京/裕隆

型      號： GSC-MK

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場發(fā)射電鏡燈絲/FIB發(fā)射源

產(chǎn)地/品牌：中國/裕隆

型      號：

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EBIC電子束感生電流電性失效分析系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：德國/PE

型      號： EBIC

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Sunny電鏡陰極熒光成像系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：中國

型      號： Sunny

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EFA電性失效分析系統(tǒng)(EBIC及EBAC)

產(chǎn)地/品牌：德國/PE

型      號： EFA

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掃描透射電子束電性失效分析系統(tǒng)STEBIC

產(chǎn)地/品牌：德國/PE

型      號： STEBIC

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3D掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)樣品：SEM, CLSM, SPM/AFM

產(chǎn)地/品牌：德國/PE

型      號： 3D Calibration

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FusionScope綜合原位分析測試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：美國

型      號： FusionScope（SEM+AFM）

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TEM/SEM原位加熱與電學(xué)芯片加熱桿系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：北京/PF

型      號： PFRD

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掃描電鏡放大倍率標(biāo)樣/電鏡標(biāo)樣

產(chǎn)地/品牌：中國/裕隆時代

型      號： S1000

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電子探針和掃描電鏡分析用標(biāo)準(zhǔn)樣品

產(chǎn)地/品牌：北京/裕隆

型      號： EPMA/SEM

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Chamberscope掃描電鏡腔室內(nèi)視鏡系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：德國/PE

型      號： Chamberscope

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X射線能譜儀檢驗(yàn)組合標(biāo)樣

產(chǎn)地/品牌：北京/裕隆時代

型      號： EDS12

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臨界點(diǎn)干燥儀

產(chǎn)地/品牌：Samdri®

型      號： Samdri®-795

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