地質切片的 BSE 檢查往往通過地毯式搜索的方式手動完成（如圖1所示），這個過程通常需要數小時，非常占用人力與設備，長時間的連續觀察也會對操作人員的視力造成影響。并且由于時間限制，往往很難覆蓋所有感興趣的區域。而在手動操控移動位置的情況下，地毯式搜索時容易發生上下行的錯位，造成特征位置重復計數，或者因跨行造成特征位置遺漏。
 

圖1 地毯式掃描示意圖

全景拼圖高清成像技術是將這個過程通過自動化來實現，允許掃描電鏡在以前技術下無法使用的時間段（例如晚上和周末）以一系列分辨率對整個載玻片進行全樣品自動化掃描成像，獲得全樣品超高分辨率照片（可達數億像素）。由于過程是全自動的，節約了人力，并且可以在晚上、周末進行連續采集，進一步提升了設備的利用效率。

調研發現，飛納電鏡全景拼圖高清成像提供兩種數據導出方式，一種為數碼存檔（具有唯一性），第二種為高清圖片。數碼存檔非常重要，因為它包含了所有原始數據，通過數碼存檔查看器，可對拼圖而成的高分辨率圖像進行二次分析。既可以作為研究的基礎數據，以“虛擬電子顯微鏡”的方式使用，可通過數碼放大，對“預存”好的照片進行二次特征物提取，且在這個過程，可選取任意區域，進行圖片導出。如有需要，也可以稍后重新訪問感興趣的區域。數碼存檔查看器作為交互式教學工具也非常寶貴的材料，可以以更低的成本，更高效的方式，將學生帶入礦物的微觀世界。

在地質領域，通過全景拼圖技術研究砂巖的孔隙度、成巖作用、礦物學分布和裂縫分析是非常有用的。該技術也同樣適用于碳酸鹽巖和頁巖，適用于變質和火成巖地質材料。如圖2.所示案例。
 

圖2. 長石砂巖的全景拼圖背散射電子（BSE）圖像

(A) 采集的全景拼圖的部分圖像，顯示晶粒大小、晶粒形狀、晶粒類型和孔隙度。其中：黑色位置=毛細孔；淺灰色位置=長石；深灰色位置=石英。水平視野長度：7 毫米。

(B) 在 (A) 中形成圖像的單個小視野分區。其中：q=石英；f=長石；qo=石英過度生長；fo=長石過度生長。水平視野長度：259μm。

這種全景拼圖技術也可以直接應用于其他需要在微米或納米尺度上檢查拋光表面的區域，例如建筑材料（砂漿和水泥）、陶瓷和金相樣品。
 

陶瓷-視野全景拼圖 自動找尋雜質、異常點

調研發現，飛納電鏡也是唯一一家可進行超景深疊加拼圖功能的軟件。可對有立體景深結構的端口等樣品進行拼圖。在研究巖石的斷裂口時，這個功能非常重要。

此外，飛納臺式掃描電鏡大樣品室卓越版 Phenom XL 提供低真空技術，可以對樣品在不鍍金的情況進行分析，分析時不會因鍍金帶來外來元素干擾。由于不鍍金具有非破壞性的特點，非常適用于珍貴的標本樣品，或需要進行其他設備后續分析的情況下進行使用。

由于全景拼圖是在大區域以極高的分辨率（小區域、慢掃描時間和高像素分辨率）進行圖像采集，傳統的掃描電鏡往往需要非常長的拼圖時間。由于飛納電鏡提供的燈絲為 CeB6 高亮度晶體燈絲，平均亮度是鎢燈絲的 10 倍，因此，采集速度可以大幅提升。調研證實，飛納電鏡拼圖時間可以縮短到傳統電鏡的 1/3，效率是常規電鏡的 3 倍。也就是說，飛納電鏡可以完成其他電鏡 3 倍的樣品量，設備發揮出來的價值也就相當于其他電鏡的 3 倍，而單位樣品消耗燈絲的時間成本，則減少為其他設備的 1/3。

此外，飛納大倉室卓越版 Phenom XL 具備市場中同級別最大的樣品可觀測范圍，樣品臺尺寸達 100x100mm。觀測范圍越大，意味著一次可以放置的樣品就越多，因此可大幅減少換樣品的次數。并且非常適合在周末或假期等無人值守的情況下，一次性進多個樣品，進行連續分析。

結論

全自動圖像采集和拼接可在大尺度范圍收集高分辨率圖像，可在減少人力成本的情況下，提升設備的利用效率，獲得更完整，準確的數據。

由于飛納電鏡的全景拼圖技術具有以下優勢，因此具有不可替代性：

· 速度最快，效率最高
· 可觀察（拼圖）范圍最大，一次可放置樣品最多
· 具有低真空技術，可不鍍金直接觀察地質切片
· 具有原始數碼存檔和高清圖片兩種數據格式，且配備數碼存檔閱讀器