你是否經歷過在電鏡室里加班到深夜，頭昏眼花，但卻有大把的樣品測不完，只能獨自神傷。雖然掃描電鏡越來越高級，但大部分繁瑣的工作仍需要人工操作。找樣品特征點所花費的時間太長，很多掃描電鏡工程師都面臨這樣的處境，有的同學不以為然，但這往往是電鏡測試難預約的原因。

現階段的電鏡測試邏輯依然是：尋找樣品特征區域 —— 放大分析 —— 其它分析。

這就意味著需要人工操作尋找樣品特征區域，而由于精力有限，樣品的大部分區域都被選擇性放棄。細篩樣品往往會花費大量人力物力，有如此待遇的樣品也一定是萬里挑一，想做到雨露均沾，真的很難。

Particle  X 能基于算法快速找到顆粒群中的“它”，并搭配能譜儀，可以直觀的獲取顆粒的形狀和成分信息。同時，通過自動移動拍照——自動顆粒識別——自動顆粒分析，可以在短時間分析大量顆粒，彌補了電鏡法檢測效率低的問題。

Particle X 全自動掃描方案

選區抽查 VS 高通量普查

我們通過研究單顆粒的性質，推斷其與整體宏觀性質之間的關系，從而構建了微觀材料的研究方法。每一個顆粒都是微觀世界的蕓蕓眾生，雖不是巧奪天工，玲瓏剔透，但在研究者眼中也是無與倫比，妙不可言。

可再厲害的研究者，精力也是有限的，即便在自動化設備的輔助下，我們也只能做到部分指標的高通量測試，尤其是可視化的掃描電鏡測試方案，一直缺乏一種可以“雨露均沾”的方案，就像人口普查一樣，讓研究者能真正掌握樣品的所有個體信息。

掃描電鏡測試是一種常規的微納米材料表征手段，但其局限在于你很難對樣品的所有區域進行分析，這就造成測試人員總是會選取典型的區域進行分析觀察，一些重要的信息可能就此石沉大海。由于電鏡測試更多的是為了支持其它測試結果，精細的抽查已經能滿足結論的需求，樣品的大部分區域就被放棄了。一種最為理想的方式是能夠對抽查的樣品進行全面的分析，即抽查與普查的結合。

常規的掃描電鏡測試只能讓你看到樣品的冰山一角

千里之堤潰于蟻穴

有時候對于個體的關注不僅僅是為了嚴謹，更是必不可少的一部分。很多樣品需要全面的分析，如：清潔度分析，鋰電雜質檢測，金屬夾雜物等。僅僅檢測樣品的幾個區域是無法滿足標準的，而通過電鏡測試可以了解雜質缺陷的具體位置，從而為產品開發提供更全面的信息。

在工業生產中，人-機-料-法-環，是全面質量管理中，5個影響產品質量的主要因素中，材料是關鍵因素，因此，評價材料品質對于保證工件質量以及降低成本，有重要的指導意義。僅僅檢測一部分區域，會錯過大量有效信息，輕則生產成本上升，質量不佳，重則可能導致產品失效。

產品質量管理體系中原材料是關鍵影響因素

在汽車制造領域，清潔度檢測的重要性越來越高，一些磨料已經威脅到產品的質量安全，如少量 2μm 的氧化鋁顆粒，傳統的重量檢測并不會識別這種顆粒，只能采用掃描電鏡檢測，不僅可以獲得形貌信息，還能結合能譜進行元素分析，但手動的識別工作耗時耗力。

清潔度測試中的雜質

Particle X 能做哪些領域的掃描電鏡測試？

為更多的回饋用戶，促進電鏡檢測的發展，飛納電鏡的納問檢測業務推出 Particle X 測試服務，可針對：清潔度、鋰電、3D 打印、金屬類樣品測試。

測試可提供多種應用領域

· 全自動汽車零部件清潔度分析
ŸParticleX 可以監控清潔度并識別機動車流體系統中的污染源可降低現場故障率和保修成本。用于磨損碎屑表征的自動化解決方案有助于制造商在生產車間實現清潔度和質量控制的新標準。

· 全自動鋰電正負極雜質分析
ŸParticleX 可以全自動對正負極中的鐵類雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統計， 整個過程無需人工參與。定量磁性雜質顆粒的形態、數量和種類，以此判定是哪個生產環節出了問題。

· 全自動鋼鐵夾雜物分析
ŸParticleX 為鋼鐵中夾雜物的分析提供了便捷、高效、可重現的分析工具。為鋼鐵材料的研發、生產、質量控制與評級提供了便利。

· 全自動 3D 打印金屬粉末評估
粉末的尺寸、形狀和化學性能對于粉末床的行成、熔池和微觀均質性可能會產生重大影響。ParticleX 可以全自動對顆粒或雜質進行快速識別、分析和分類統計，為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。

樣品全面掃描

Particle X 為什么這么優秀

知其長短 —— 粒徑統計

對供應商A (a, b) 和供應商 B (c,d) Ti-6Al-4V 粉末使用 Particle X 獲得的掃描電鏡二次電子圖像及對應的顆粒粒度分布。

· ParticleX 可以測量每個顆粒的最大直徑、最小直徑、周長和形狀等。

· Phenom ParticleX 可自動分析粉末，無需人員值守且可連續運行。在自動特征分析（AFA）模式下，用戶可以在幾分鐘內對龐大的顆粒或夾雜物數據集進行分類，進而幫助優化過程控制。

· 每個顆粒都分別分析并存儲相應的數據。利用顆粒查看器，用戶可以輕松地對單個顆粒重新查看進行更深入的分析或成像。

描其體膚——顆粒形態分析統計

高分辨成像分辨率可達 10nm，設定相應規則，可以分離出每種形態類型顆粒的粒徑體積分布。基于 SEM 的圖像分析在自動化采集顆粒形態信息方面極具優勢，有助于對多次回收利用的粉末進行分析和追蹤。

我們不僅可以獲得粒度和形狀分布信息，同時還可以利用 EDX 探測器區分出不同化學物質的粉末顆粒或微結構特征。

Ti64 粉末中球形顆粒、衛星球顆粒和變形顆粒的體積分布

感其心智 —— 顆粒元素分析

Particle X 提供基于掃描電鏡（SEM）的圖像分析在自動化采集顆粒形態信息方面極具優勢，有助于對多次打印回收利用的粉末進行分析和追蹤。

Ti-6Al-4V 粉末按照化學組成進行顆粒分析