高感度分光輻射亮度計 HS-1000

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

線掃描膜厚儀【離線型】

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

紫外分光配光測量系統(tǒng)

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

紫外分光輻射照度測量系統(tǒng) New

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)

產地/品牌：日本/大塚

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液晶層間隙量測設備 RETS series

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

橢偏儀 FE-5000/5000S

產地/品牌：日本/大塚

型      號： FE-5000/5000S

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總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series

產地/品牌：日本/大塚

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ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE

產地/品牌：日本/大塚

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Load Port對應膜厚測量系統(tǒng) GS-300

產地/品牌：日本/大塚

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高速LED光學特性儀 LE series

產地/品牌：日本/大塚

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膜厚量測儀 FE-300

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

線掃描膜厚儀【在線型】

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

嵌入式膜厚檢測儀

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

多樣品納米粒子徑測試系統(tǒng)·nanoSAQLA

產地/品牌：上海

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上海波銘科學儀器有限公司

多樣品nano粒子徑測量系統(tǒng) nanoSAQLA

產地/品牌：日本/大塚

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光波場三維顯微鏡 MINUK

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE

產地/品牌：日本/大塚

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上海波銘科學儀器有限公司

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

產地/品牌：日本/大塚

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